Seica將參加AJBAN國防工業(yè)與技術(shù)展，展位號(hào)C4
08
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Seica將首次亮相阿聯(lián)酋領(lǐng)先的國防工業(yè)供應(yīng)鏈展會(huì) —— AJBAN國防工業(yè)與技術(shù)展。
屆時(shí)，歡迎蒞臨C4展位，Seica將與中東地區(qū)代理商GAEP（Gulf Application Engineering and Packaging）聯(lián)合參展。
Seica專為國防與航空航天行業(yè)設(shè)計(jì)并制造創(chuàng)新、技術(shù)先進(jìn)的解決方案，這些領(lǐng)域?qū)Ω哔|(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、可靠性和長期支持有著極為嚴(yán)苛的要求。多年來，Seica在老舊產(chǎn)品替換與返求工程方面積累了非凡的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，能夠提供極具靈活性的系統(tǒng)，確保長期的售后保障。
Seica始終專注于國防領(lǐng)域，并為此專門成立了軍事航空解決方案（MAS）事業(yè)部，只為更精準(zhǔn)地滿足該市場的獨(dú)特需求。
PILOT VX 飛針測試系統(tǒng)將在C4 展位亮相，該系統(tǒng)是速度與性能的標(biāo)桿。其先進(jìn)的機(jī)械架構(gòu)與高端運(yùn)動(dòng)控制器可將測試時(shí)間最多縮短50%。12組多功能測試頭支持雙面同步探測，多達(dá)60 個(gè)測試點(diǎn)。平臺(tái)集成前沿測量硬件與創(chuàng)新測量技術(shù)，帶來卓越的測試表現(xiàn)。
優(yōu)良的VIVA軟件使不同類型的測試和智能分析能力的并行化成為可能。再結(jié)合基于人工智能原理的算法，系統(tǒng)能在運(yùn)行時(shí)自動(dòng)優(yōu)化測試流程，在不影響測試穩(wěn)定性與覆蓋率的情況下，大大縮短測試時(shí)間。
FlyPod選件進(jìn)一步提高了測試能力，單個(gè)移動(dòng)探針可處理多達(dá)14個(gè)通道，可實(shí)現(xiàn)邊界掃描與在線燒錄，并且無需固定外部線纜。PILOT VX 還提供測試柔性電路及LED電-光性能檢測的選配功能。此外，獨(dú)有的FlyStrain? 技術(shù)可生成被測器件的壓力/力拓?fù)鋱D——這一功能過去僅見于傳統(tǒng)針床系統(tǒng)。如今，這些高端工具已融入飛針技術(shù)，特別適用于陶瓷、晶圓、航電及衛(wèi)星板等需要精密探測與全程追溯的嚴(yán)苛場景。
PILOT VX是貫穿當(dāng)今飛速發(fā)展的產(chǎn)品生命周期的全能利器——從概念、設(shè)計(jì)、原型到量產(chǎn)，全程覆蓋。
其具備即時(shí)、高精度訪問原型電路板所有節(jié)點(diǎn)的特性，配合強(qiáng)大的軟硬件測量工具套件（包括PR boost功能——該功能可通過8個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電氣探針為電路板提供高達(dá)2A的電流），無需深度培訓(xùn)或定制測試程序即可實(shí)現(xiàn)快速高效的驗(yàn)證。設(shè)計(jì)驗(yàn)證完成后，VIVA基于電路板CAD數(shù)據(jù)的自動(dòng)測試程序生成功能，可簡化預(yù)量產(chǎn)或全面生產(chǎn)流程，最大限度縮短設(shè)置時(shí)間。得益于速度與性能的顯著提升，Pilot VX現(xiàn)已成為高產(chǎn)量生產(chǎn)環(huán)境中的關(guān)鍵解決方案——在自動(dòng)化與可靠性至關(guān)重要的領(lǐng)域尤為重要。
在國防領(lǐng)域，設(shè)備延壽與器件淘汰是普遍難題。為此，Seica推出Valid LR系統(tǒng)，專為替換陳舊設(shè)備打造。該平臺(tái)靈活且強(qiáng)大，可快速、精準(zhǔn)地把既有 TPS（Test Program Set）遷移到新設(shè)備，完整保留原有故障檢測覆蓋率。用戶可像在原測試儀上一樣繼續(xù)使用既有測試程序，且該平臺(tái)面向未來，更添優(yōu)勢。
除了體驗(yàn)Seica在C4展位的測試解決方案外，參觀者還可深入了解Canavisia的工業(yè)5.0軟硬件技術(shù)。這些方案專注于從機(jī)器、工廠及建筑中采集并數(shù)字化數(shù)據(jù)，助力流程優(yōu)化、預(yù)防性維護(hù)與智能能源管理。
歡迎蒞臨C4展位，探索Seica面向國防領(lǐng)域的尖端測試方案，并與我們的頂級(jí)專家面對(duì)面交流——助您從技術(shù)及成本雙重維度攻克測試難題。