IPC APEX EXPO-3月18-20日-3205號展位
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參加APEX展會，與Seica推出的Pilot VX 和Compact SL一起探索下一代測試技術(shù)
Seica Inc.很榮幸宣布將參加于2025年3月18日至20日在加利福尼亞州阿納海姆市阿納海姆會議中心舉行的2025年IPC APEX EXPO展會。前往3205號展位，您將體驗到Seica全自動配置的Pilot VX飛針測試平臺和Compact SL在線針床測試儀，以及由Canavisia Dashboard提供的實時數(shù)據(jù)分析。
目前，自動化對于優(yōu)化生產(chǎn)流程至關(guān)重要，而Seica始終站在提供先進(jìn)測試解決方案的最前沿。Seica設(shè)備加上VIVA 集成平臺 (VIP?) 實現(xiàn)了測試技術(shù)的無縫結(jié)合，從而在最短的時間內(nèi)達(dá)到最大的吞吐量和測試覆蓋率。
Pilot VX是Seica的旗艦飛針系統(tǒng)，展示了最先進(jìn)的機械結(jié)構(gòu)和運動控制器，可將測試時間縮短 50%。Pilot VX配備了12個多功能測試頭，可同時對多達(dá)44個點進(jìn)行雙面探測。技術(shù)先進(jìn)的測量硬件和基于微波的新型測量技術(shù)以及 FlyPod 和 FlyStrain? 等獨特的選件使得測試性能更為卓越。FlyPod 選件使單個移動探頭能夠處理多達(dá) 14 個通道，而FlyStrain? 選件增加了壓力/力映射功能，可生成被測產(chǎn)品的詳細(xì)拓?fù)鋱D。
Compact SL的研發(fā)旨在提供最高的可配置性和定制性，全面滿足測試要求，包括在線、功能和組合測試。它支持在板編程（OBP）等高級任務(wù)，集速度和靈活性于一身，可滿足當(dāng)今生產(chǎn)環(huán)境嚴(yán)格的吞吐量要求。借助最新的ATE BOOSTER模塊，該系統(tǒng)可提高LED測試和OBP性能，同時最大限度地降低硬件資源成本。
此外，Seica還將展出DeviceClip；這是一種通用ISP（系統(tǒng)內(nèi)編程）編程工具，用于對任何半導(dǎo)體制造商生產(chǎn)的各種類型的半導(dǎo)體器件（微控制器、串行存儲器、可編程邏輯器件）進(jìn)行編程。該解決方案采用模塊化設(shè)計，可配置為提供多達(dá)64個并行、完全獨立、多協(xié)議的ISP通道，并配有可兼容任何操作系統(tǒng)的嵌入式控制面板。其集成的高性能微電腦使DeviceClip能夠?qū)θ魏卧O(shè)備都達(dá)到最大編程速度，為實現(xiàn)不同的目標(biāo)，模塊內(nèi)的每個通道都可進(jìn)行相關(guān)配置，確保了極高的靈活性。DeviceClip可在工作臺上獨立運行，也可集成到我們的任何測試平臺中，如 Pilot VX 或Compact系列測試儀。
用于實時監(jiān)控的Canavisia儀表板介紹
除了展示行業(yè)領(lǐng)先的測試解決方案外，Seica還將呈現(xiàn)Canavisia Dashboard，這是一個提供實時數(shù)據(jù)采集和可視化的數(shù)字監(jiān)控平臺。在3205號展臺，Canavisia Dashboard將與Pilot VX和Compact SL系統(tǒng)連接，直接將實時數(shù)據(jù)流傳輸?shù)絠Pad上。這一功能突出展示了生產(chǎn)或設(shè)備管理人員如何從手中遠(yuǎn)程監(jiān)控關(guān)鍵指標(biāo)，確保優(yōu)化流程和提高決策力。
Canavisia Dashboard為工業(yè)監(jiān)控和能源管理提供直觀、用戶友好的分析。制造商通過它能夠?qū)崟r跟蹤關(guān)鍵生產(chǎn)指標(biāo)、監(jiān)控設(shè)備性能并分析能源消耗。這種可視性和控制水平有助于簡化操作、減少停機時間并提高整體效率。
3205號展臺的互動演示
前往Seica展臺的觀眾將親眼目睹這些系統(tǒng)如何通過Compact SL和Pilot VX之間的對電路板的無縫處理來簡化流程的現(xiàn)場演示。Seica存儲墻上的專用顯示器將顯示實時性能數(shù)據(jù)，提供系統(tǒng)功能的全面視圖。通過將先進(jìn)的自動化與Canavisia Dashboard實時數(shù)據(jù)流的強大功能相結(jié)合，Seica為下一代電子生產(chǎn)制造提供了整體解決方案。
更多信息請訪問www.seica.com.